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feinfocus X光机(X-RAY)
仪器简介:◆大面积扫描(探测器一次扫描面积大) ◆样品zei大可达380 mm x 300 mm x 300 mm ◆高速扫描的时间
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梅特勒托利多 X32 X-ray Inspection System
X32 X-ray Inspection System精确、完整的终极检测.先进的X射线机检测功能有标准配置和定制配置可供选择,具有单通道或多通道功能和完整性检查功能,可提供出色的检测性能
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梅特勒托利多 X35 Bulk Flow X-ray Inspection System
X35 Bulk Flow X-ray Inspection System创新的散料检测解决方案.X35系列散料X射线系统专为松散流动的散装食品而设计,在产品进一步增值之前提供污染物检测,每小时可
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梅特勒托利多 X35 Series DXD X-ray Inspection System
X35 Series DXD X-ray Inspection System检测不易发现的污染物.优质的DXD X射线检测器在检测各种包装食品中具有出色的检测性能。作为双能量解决方案,DXD安装
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Dectris 高能X-Ray相机
射线漫散射• 时间分辨/ 现场实验X-ray 成像• x 光投影成像( 放射学)• x 光电脑断层扫描(CT)• 小型动物/ 临床前电脑断层摄影• x 射线相衬成像• 无损检测(NDT) 和安检
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OP‐XCT软X-RAY光谱仪
OP-XCT 既可以作为时间补偿双单色仪,也能用于成像光谱。可诊断光谱仪研究形成HHG 激光源,也可以改变出射狭缝处镜面位置,输出单色光照射样品。软X-RAY 光谱仪列表 o= 标准或者可选项,单道
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AG-X系列试验机
仪器简介: AG-X系列试验机是岛津公司zei新产品,力求数据更可靠,操作更便捷,以原有机种的技术为基础,控制性能实现飞跃,此外优化设计,无论从硬件还是软件都进行了升级,AG-X
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AMPTEK-超快型X射线/X光硅漂移探测器
下一代硅漂移探测器 (Next Generation SDD)超快型硅漂移探测器 (Super Fast SDD) 10倍通量 & 不损失任何分辨率 能量分辨率(FWHM,[eV])峰化时间(微秒
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X射线光窗
Ultra-thin Polymer X-ray WindowsAP超薄聚合物窗口非常好的满足低能X射线透射的要求。AP窗口可提供高X射线透过率、高机械强度、光排斥、真空密封性以及可靠性
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X-ray sCMOS 4MP系列探测器
X-ray sCMOS 4MP系列探测器该探测器系列提供67 x 67mm 的有效探测面积以及400 万像素的分辨率。被预先沉积闪烁体可以覆盖从1KeV 到300KeV 的X-Ray 范围。同时可以
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